阻抗分析儀IM3570可實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查,一臺儀器能實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查。LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量。適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量,分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。 LCR測試儀和阻抗分析儀被設(shè)計(jì)用于測試電子元件在某些頻率或?qū)掝l率范圍內(nèi)的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格,則這些電子元件將不能正常工作。
LCR測試儀和阻抗分析儀使用自動平衡電橋法(ABB)和射頻電流-電壓法(RF I-V)兩種方法測量阻抗。
使用自動平衡電橋法的LCR測試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內(nèi)(1MHz-100MHz)測量較大的阻抗,適用于低頻、通用測試,但尚不足以進(jìn)行高頻測試。
而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度(約1%左右),并可以在高頻下測試較大的阻抗。
LCR測試儀和阻抗分析儀到底有哪些差別呢?
LCR測試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測量阻抗,這兩種產(chǎn)品之間的差別更多的是功能和顯示:
LCR測試儀通常采用單一頻率進(jìn)行測量并提供數(shù)值。
阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進(jìn)行測量,并提供頻率特性圖,也可以執(zhí)行等效電路分析。
隨著信號電感器和功率電感器在智能手機(jī)、平板電腦和汽車方面的使用持續(xù)增長,阻抗分析儀和LCR的應(yīng)用越來越廣泛,阻抗分析儀尺寸緊湊,寬頻率范圍,憑借高性價比獲得廣大用戶的認(rèn)可。